公司“光學圖像法測量棉纖維雜質”技術獲國家專利
發(fā)布時間: 2011-01-20 來源:原創(chuàng) 作者:無
日前,公司申請的 “光學圖像法測量棉纖維雜質的裝置”技術獲得國家知識產(chǎn)權局專利授權。在為國產(chǎn)棉纖維性能測試提供先進可靠技術的同時,最大限度的滿足中國棉花檢驗體制改革儀器化技術發(fā)展的需要。
纖維檢驗部門和紡織行業(yè)對棉纖維的雜質性能極為關注。長期以來,我國的檢驗部門和紡織企業(yè)對棉纖維的雜質測量采用機械式分離雜質的稱重法,這種方法的缺點是測量速度很慢,不能有效地測量棉纖維的葉屑雜質,不能滿足棉花質量檢驗的快速測量要求。長嶺紡電公司自主研制,設計了一種光學圖像法測量棉纖維雜質的裝置,以實現(xiàn)棉花質量檢測的需要。這項專利技術,確保了標準光源的穩(wěn)定、可調光路的設計及實現(xiàn)、測試窗口光照的穩(wěn)定均勻,光學調節(jié)器的設計和被測棉纖維的雜質圖像清晰準確,專門的棉纖維雜質圖象處理軟件,通過用標準的白板和雜質板對儀器進行較準,完成對被測棉纖維表面雜質粒數(shù)和雜質面積相對百分率的準確測量,并對雜質進行分級。
據(jù)悉,該項專利技術已成功的應用在XJ128快速棉纖維性能測試儀產(chǎn)品上,保證了該產(chǎn)品測試棉纖維雜質性能指標的快速全面準確。